1470E多通道電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)：

　　1.多通道DC測(cè)試功能

　　1470E的每個(gè)獨(dú)立恒電位/恒電流儀通道是由的高性能數(shù)字信號(hào)處理器所控制，提供準(zhǔn)確瞬時(shí)的測(cè)試控制、數(shù)據(jù)平均和安全限制功能?？蛇M(jìn)行較寬范圍的恒電位（電壓控制）和恒電流（電流控制）測(cè)試技術(shù)，其中包括：

　　•開(kāi)路電位

　　•循環(huán)伏安

　　•恒定和掃描電位/電流控制

　　•高速電位/電流脈沖技術(shù)（如電池測(cè)試）

　　•電位/電流階躍

　　•線性極化電阻

　　•歐姆降測(cè)量（的分析等效串聯(lián)電阻ESR）

　　2.高速多通道阻抗測(cè)試

　　單正弦波相關(guān)技術(shù)

　　單正弦波相關(guān)是世界各地的研究人員*的zui準(zhǔn)確和可重現(xiàn)的技術(shù)阻抗研究方法，尤其針對(duì)電池阻抗研究。Solartron的高性能145x頻響儀供非常高的測(cè)量速率，能在短短幾秒鐘完成從10Hz至1MHz的電池阻抗掃描！單正弦相關(guān)技術(shù)覆蓋系統(tǒng)（從10mHz至1MHz）的全部帶寬。

　　多正弦波/傅立葉變換分析

　　單正弦相關(guān)技術(shù)提供了非常快速的阻抗分析。但在較低的頻率，例如在電池?cái)U(kuò)散特性分析中，需要測(cè)量時(shí)間可能會(huì)延長(zhǎng)，因?yàn)樵诿總€(gè)頻率下必須至少有一個(gè)周期的波形。這可能會(huì)導(dǎo)致成幾個(gè)小時(shí)的測(cè)試運(yùn)行。例如一個(gè)單波1mHz的測(cè)量至少需要1000秒（＞16分鐘），但是145x系列頻響儀，提供了另一種計(jì)量方法（多正弦/快速傅立葉變換FFT分析），后者可以在系統(tǒng)的整個(gè)頻率范圍內(nèi)使用，但對(duì)于低頻率的測(cè)試特別有效。

　　多個(gè)正弦波頻率同時(shí)用于測(cè)試體系，提供整個(gè)頻率范圍內(nèi)的激勵(lì)。多正弦波波形類(lèi)似于隨機(jī)噪聲，但實(shí)際上是選擇的幾個(gè)波形的疊加。被測(cè)試系統(tǒng)的電位和電流波形同時(shí)被捕獲和分析，同時(shí)利用FFT技術(shù)和頻譜數(shù)據(jù)的比率，可得到在原激勵(lì)波形的頻率阻抗的結(jié)果。例如，三個(gè)數(shù)量級(jí)頻率可以同步獲得，如從1Hz到1mHz的阻抗結(jié)果，在單次測(cè)量以1mHz為帶頻的基礎(chǔ)上需要1000秒（16分鐘）。相比之下，以單正弦波從1Hz至1mHz，每數(shù)量級(jí)10個(gè)點(diǎn)測(cè)量，需時(shí)約80分鐘（5倍的時(shí)間）。這使得多正弦/FFT的方法非常適合對(duì)測(cè)量速度要求較高的實(shí)驗(yàn)，例如，隨時(shí)間的變化的體系必須在體系變化前完成快速測(cè)量。FFT技術(shù)非?？焖伲捎谏婕暗蕉鄠€(gè)頻率同時(shí)測(cè)量，準(zhǔn)確度可能低于單一正弦相關(guān)波。145x系列頻響儀為此提供了一些非常先進(jìn)的設(shè)施，以幫助用戶(hù)zui大限度地減少這些影響：

　　•用戶(hù)可選擇在多波測(cè)量時(shí)的頻率；

　　•一個(gè)系統(tǒng)默認(rèn)的波形頻率選擇清單，幫助客戶(hù)選擇適當(dāng)?shù)念l率；

　　•自動(dòng)波形優(yōu)化，盡量減少多正弦波任何雜峰。

　　頻率選擇功能，在總體激勵(lì)水平不變情況下，讓多波測(cè)量利用更少的頻率，可以降低測(cè)量噪聲，使得每個(gè)頻率有更高相對(duì)幅值。

　　頻率選擇功能，可以減少電化學(xué)體系非線性所引起的問(wèn)題，并獲得對(duì)數(shù)間隔的數(shù)據(jù);給予非常相似的單正弦掃描技術(shù)的結(jié)果，同時(shí)保留了速度優(yōu)勢(shì)。