說到微觀，人們的多數(shù)印象都是生物微觀世界，其實微觀只是用另一個角度去觀察世界，電化學也存在著微觀世界的觀察者：電化學顯微鏡(SECM)。
 
 

　　關(guān)于電化學顯微鏡
 

　　掃描電化學顯微鏡(縮寫SECM)是80年代末由A. J. Bard的小組提出和發(fā)展起來的一種掃描探針顯檄鏡技術(shù)。它是基于70年代末徽電極(UME)及80年代初掃描隧道顯微鏡(STM)發(fā)展而產(chǎn)生出來的一種分辨率介于普通光學顯微鏡與STM之間的電化學現(xiàn)場檢測新技術(shù)，其核心是電化學和原位檢測。
 
 

　　SECM的工作原理
 

　　掃描電化學顯微鏡基于電化學原理工作，可測量微區(qū)內(nèi)物質(zhì)氧化或還原所給出的電化學電流。利用驅(qū)動非常小的電極(探針)在靠近樣品處進行掃描，樣品可以是導體、絕緣體或半導體，從而獲得對應(yīng)的微區(qū)電化學和相關(guān)信息，目前可達到的分辨率約為幾十納米。

　　SECM的檢測信號是電流或者電位，因而具有化學反應(yīng)靈敏性，不但可以研究探頭或者基底電極上的異相反應(yīng)電荷轉(zhuǎn)移動力學和溶液中的均相反應(yīng)動力學,甚至可以獲得界面雙電層信息,還可以原位分辨表面微區(qū)電化學不均勻性，從而彌補了掃描電鏡等不能直接提供電化學活性信息的不足，這對于腐蝕研究具有重要的意義。
 
 

　　SECM在腐蝕研究的運用
 

　　正如上述所說，因為SECM的特性，SECM在腐蝕中的應(yīng)用日益受到重視。通常腐蝕研究體系中探針與基底電極距離通過測試逼近曲線，再根據(jù)理論*正反饋或者負反饋曲線來獲得。實際上，移動探針的步進馬達或者壓電陶瓷移動距離與真實移動距離不*一致，且在腐蝕研究體系中，逼近曲線也不全是*正反饋或者負反饋響應(yīng)。因此距離控制對于SECM在腐蝕研究中的應(yīng)用是基本前提。