石英晶體微天平其能夠測量微小質(zhì)量的變化，其廣泛應(yīng)用在生物醫(yī)學(xué)、蛋白質(zhì)、氣體等的吸附檢測。本電路設(shè)計(jì)以單片機(jī)為核心，利用石英晶振片的特性，振蕩器的起振、穩(wěn)定振蕩原理，以及自動(dòng)增益控制等方法，構(gòu)造穩(wěn)定的振蕩電路，實(shí)現(xiàn)對石英晶片頻率變化的直接測量，進(jìn)而推斷出相應(yīng)的質(zhì)量變化。使用LCD顯示模塊，實(shí)時(shí)顯示頻率、質(zhì)量等的測量值，并擴(kuò)展RS232接口，實(shí)現(xiàn)與上位機(jī)之間的通信。

　　基于耗散因子檢測技術(shù)的界面跟蹤探測系統(tǒng)進(jìn)行分子與界面相互作用的研究，工作時(shí)，先將芯片放置于流動(dòng)池中，將流動(dòng)池固定于樣品平臺上，樣品平臺與電子單元和電腦主機(jī)連接，樣品通過蠕動(dòng)泵流經(jīng)流動(dòng)池中的芯片上方；通過軟件設(shè)置，電子單元對芯片兩面施加一個(gè)電壓隨后斷開，芯片發(fā)生振動(dòng)、產(chǎn)生電信號并傳輸回電子單元，振動(dòng)的頻率和振幅記錄在軟件系統(tǒng)里；當(dāng)樣品流經(jīng)芯片上方，有物質(zhì)吸附在芯片上或者將芯片上的物質(zhì)沖走時(shí)，都會改變芯片的振動(dòng)狀態(tài)并被記錄下來；芯片振動(dòng)狀態(tài)與芯片上方物質(zhì)的改變量，包括質(zhì)量，厚度，密度和柔軟程度有關(guān)，所以軟件通過數(shù)學(xué)分析的方法可以獲取芯片上方物質(zhì)的這些變量。測定吸附層質(zhì)量，并同步提供粘彈性等結(jié)構(gòu)信息。石英晶體微天平可測定多種不同類型表面的分子相互作用和分子吸附行為，同時(shí)可檢測分子的結(jié)構(gòu)變化以及吸附與解析的動(dòng)態(tài)過程。